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        SEM掃描電鏡
        設備名稱:SEM掃描電鏡&EDX
        設備型號:JSM-6010PLUS/LA
        適用標準:GB/T 15074-2008
        適用對象:產品、材料形貌觀察、元素分析
        測試量級:倍率:300000X,有效像素20000X

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